模式识别在半导体制造中的‘盲点’，如何提升其准确性与效率？
在半导体制造的复杂工艺中，模式识别技术作为质量控制的关键一环，其重要性不言而喻，在实际应用中，我们常面临一个“盲点”——如何在高噪声、多变量、动态变化的生产环境中，既快速又准确地识别出制造过程中的异常模式？传统方法往往依赖于人工设定的阈值和...
在半导体制造的复杂工艺中，模式识别技术作为质量控制的关键一环，其重要性不言而喻，在实际应用中，我们常面临一个“盲点”——如何在高噪声、多变量、动态变化的生产环境中，既快速又准确地识别出制造过程中的异常模式？传统方法往往依赖于人工设定的阈值和...