在半导体模式识别中，如何平衡算法复杂度与识别精度？
在半导体制造的自动化检测中，模式识别技术扮演着至关重要的角色，它通过分析图像、信号等数据，实现对芯片缺陷、结构异常等问题的精准识别，在追求更高识别精度的同时，算法的复杂度也往往随之增加，这给计算资源和检测效率带来了挑战。为了在两者之间找到平...
在半导体制造的自动化检测中，模式识别技术扮演着至关重要的角色，它通过分析图像、信号等数据，实现对芯片缺陷、结构异常等问题的精准识别，在追求更高识别精度的同时，算法的复杂度也往往随之增加，这给计算资源和检测效率带来了挑战。为了在两者之间找到平...