计算机视觉在半导体缺陷检测中的‘盲点’与‘明路’
在半导体制造的精密世界里，每一个微小的缺陷都可能成为产品性能的“拦路虎”，计算机视觉技术，作为现代工业检测的“火眼金睛”，正逐步成为半导体缺陷检测的重要工具，在这条光明之路上，仍存在一些“盲点”亟待解决。半导体制造过程中的复杂背景和微小缺陷...
在半导体制造的精密世界里，每一个微小的缺陷都可能成为产品性能的“拦路虎”，计算机视觉技术，作为现代工业检测的“火眼金睛”，正逐步成为半导体缺陷检测的重要工具，在这条光明之路上，仍存在一些“盲点”亟待解决。半导体制造过程中的复杂背景和微小缺陷...