如何设计高效算法以优化半导体制造中的缺陷检测？
在半导体制造的复杂工艺中，缺陷检测是确保产品质量的关键环节，面对海量的数据和微小的缺陷特征，如何设计一个既快速又准确的算法，成为了一个挑战。问题提出： 在半导体晶圆制造的表面缺陷检测中，如何设计一个能够高效处理高分辨率图像并准确识别微小缺陷...
在半导体制造的复杂工艺中，缺陷检测是确保产品质量的关键环节，面对海量的数据和微小的缺陷特征，如何设计一个既快速又准确的算法，成为了一个挑战。问题提出： 在半导体晶圆制造的表面缺陷检测中，如何设计一个能够高效处理高分辨率图像并准确识别微小缺陷...