深度学习在半导体制造中的未来，能否彻底改变晶圆缺陷检测的格局？
在半导体制造的精密世界里，每一微米的进步都意味着技术的飞跃，而晶圆缺陷检测，作为这一过程中的关键环节，其准确性和效率直接关系到芯片的质量与良率，传统方法虽能胜任基本检测任务，但面对复杂多变的缺陷形态时，其局限性和误报率不容忽视。深度学习，作...
在半导体制造的精密世界里，每一微米的进步都意味着技术的飞跃，而晶圆缺陷检测，作为这一过程中的关键环节，其准确性和效率直接关系到芯片的质量与良率，传统方法虽能胜任基本检测任务，但面对复杂多变的缺陷形态时，其局限性和误报率不容忽视。深度学习，作...