在半导体制造中，如何利用概率论优化缺陷检测的准确性？
在半导体制造的精密工艺中，缺陷检测是确保产品质量的关键环节，由于制造过程的复杂性和微小缺陷的难以察觉性，提高缺陷检测的准确性始终是一个挑战，这里，我们可以利用概率论中的贝叶斯定理和决策理论来优化检测策略。假设我们有一个缺陷检测系统，其误报（...
在半导体制造的精密工艺中，缺陷检测是确保产品质量的关键环节，由于制造过程的复杂性和微小缺陷的难以察觉性，提高缺陷检测的准确性始终是一个挑战，这里，我们可以利用概率论中的贝叶斯定理和决策理论来优化检测策略。假设我们有一个缺陷检测系统，其误报（...