如何设计高效的算法以优化半导体制造中的缺陷检测？
在半导体制造的复杂工艺中，缺陷检测是确保产品质量和性能的关键环节，随着技术的进步，对检测精度和速度的要求日益提高，传统的检测方法已难以满足现代生产的需求，设计一个高效、准确的算法来优化半导体制造中的缺陷检测显得尤为重要。问题提出：如何设计一...
在半导体制造的复杂工艺中，缺陷检测是确保产品质量和性能的关键环节，随着技术的进步，对检测精度和速度的要求日益提高，传统的检测方法已难以满足现代生产的需求，设计一个高效、准确的算法来优化半导体制造中的缺陷检测显得尤为重要。问题提出：如何设计一...