计算机视觉在半导体缺陷检测中的未来挑战与机遇
在半导体制造的精密工艺中,任何微小的缺陷都可能成为产品性能的“阿喀琉斯之踵”,传统的人工检测方法不仅耗时耗力,且受限于人眼的主观性和疲劳度,难以保证检测的准确性和一致性,而计算机视觉技术,作为人工智能与图像处理技术的结晶,正逐步成为半导体缺...
在半导体制造的精密工艺中,任何微小的缺陷都可能成为产品性能的“阿喀琉斯之踵”,传统的人工检测方法不仅耗时耗力,且受限于人眼的主观性和疲劳度,难以保证检测的准确性和一致性,而计算机视觉技术,作为人工智能与图像处理技术的结晶,正逐步成为半导体缺...
在半导体制造的精密世界里,每一个微小的缺陷都可能成为影响产品性能的“隐形杀手”,而计算机视觉技术,正逐步成为这一领域内不可或缺的“火眼金睛”,随着技术的深入应用,一系列问题也随之浮现,其中最引人深思的是:如何在日益复杂的生产环境中,确保计算...