模式识别在半导体制造中的挑战与机遇，如何精准捕捉生产异常？
在半导体制造的复杂工艺流程中，模式识别技术作为一项关键工具，正面临着前所未有的挑战与机遇，其核心问题在于：如何在海量、高维度的生产数据中，快速而准确地识别出异常生产模式，从而预防缺陷产品的产生？传统方法往往依赖于人工审查或简单统计，难以应对...
在半导体制造的复杂工艺流程中，模式识别技术作为一项关键工具，正面临着前所未有的挑战与机遇，其核心问题在于：如何在海量、高维度的生产数据中，快速而准确地识别出异常生产模式，从而预防缺陷产品的产生？传统方法往往依赖于人工审查或简单统计，难以应对...