计算机视觉在半导体缺陷检测中的‘盲点’是什么？
在半导体制造的精密世界里，计算机视觉技术如同一双锐利的“电子眼”，帮助工程师们捕捉到微米级别的缺陷，确保芯片的完美无瑕，在这高度自动化的检测流程中，仍存在一些“盲点”，限制了其全面性和准确性。光照与阴影的挑战：在复杂的半导体结构中，微小的缺...
半导体缺陷检测盲点
计算机视觉在半导体缺陷检测中的‘盲点’是什么？
在半导体制造的精密世界里，计算机视觉技术如同一双锐利的“电子眼”，助力着缺陷的精准识别与控制，这双“眼”并非无所不能，其“盲点”主要集中于以下几点：1、微小缺陷的识别：随着半导体工艺的进步，特征尺寸不断缩小至纳米级，一些微小缺陷（如亚微米级...
计算机视觉在半导体缺陷检测中的‘盲点’是什么？
在半导体制造的精密世界里，计算机视觉技术如同一双慧眼，助力着缺陷的精准捕捉与分类，在这高度自动化与智能化的背后，仍存在一些“盲点”，挑战着技术边界。一个不容忽视的“盲点”在于光照与阴影的复杂交互，在微观尺度下，半导体表面的微小缺陷往往因光照...