在半导体领域，我们常关注器件的物理老化、电迁移等导致的性能退化问题，将这一视角转向人体健康领域，一个有趣的现象引起了我们的注意：动脉粥样硬化——这一心血管疾病的罪魁祸首，与半导体器件的老化过程在某种程度上存在着惊人的相似性。
动脉粥样硬化的形成，是脂质在动脉壁沉积并逐渐形成斑块的过程，这类似于半导体材料中杂质和缺陷的积累，随着时间推移，这些斑块会阻碍血液流动，增加心血管事件的风险，而半导体器件在长时间使用后，其内部结构也会因应力、热、辐射等因素发生微小变化，导致性能下降，甚至失效。
进一步思考，是否可以通过类似半导体制造中使用的“净化”和“修复”技术，来干预动脉粥样硬化的进程？利用纳米技术清除血管内的有害物质，或开发能够促进血管自我修复的药物，这不仅是对半导体技术的一次跨界思考，更是对人类健康领域的一次潜在革新。
虽然目前这一领域的研究尚处于初步阶段，但动脉粥样硬化与半导体器件老化的类比，为我们提供了全新的视角和研究方向，或许在不久的将来，我们能在这两个看似不相关的领域间，找到意想不到的连接。
发表评论
探索动脉粥样硬化与半导体器件老化之间的未知联系，或揭示生物与非生命系统共通的衰老机制。
动脉粥样硬化与半导体器件老化看似风马牛不相及，实则都涉及氧化应激的生物学机制。
添加新评论